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X射线荧光光谱仪/膜厚仪(先进型)
⼿动变焦
型号 XRF-PT230-Y
视频

应用领域: 电镀镀层厚度分析, 接插件等电子元器件检测, 紧固件行业, 汽车零部件,
五金行业(家用设备及配件等, 如Cr/Ni/CuZn(ABS)), 新能源行业(光伏焊带丝等),
配饰厚度分析, 铷铁硼磁铁上的NI/Cu/Ni/FendB, 电镀液的金属阳离子检测等
可检测90种涂镀层元素, 并用于地矿, 合金及贵金属等物质中的77种元素成分分析
搭载微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统, 最小测量面积达0.03mm²
拥有无损手动变焦检测技术, 可对0-30mm各种异形凹槽件进行无损检测
装配Si-Pin半导体探测器, 分辨率高, 测试速度快, 数据稳定, 配有微光聚集技术,
测距光斑扩散度小于10%
核心EFP算法, 可同时分析23个镀层, 24种元素, 可对多层多元素,
包括同种元素在不同层都可快, 准, 稳的做出数据分析
人性化封闭软件, 自动判断故障, 提示校正及操作步骤, 避免误操作

技术参数 标准配置
元素范围 锂Li(3)-铀U(92) 主机 1个
检出限 0.005μm 电脑 1套
涂镀层分析 分析厚度 0.01-80μm(不同元素检出限不同) 打印机 1个
重复性 0.1μm(<1μm的最外层镀层) 附件箱 1个
稳定性 0.1μm(<1μm的最外层镀层) 12元素片 1套
元素范围 硫S(16)-铀U(92) 标准片 2片 *
检出限 2ppm
成份分析 含量范围 2ppm~99% * 标准片根据需求以下规格十选二
重复性 0.1% 分类 型号 规格
稳定性 0.1% XRF-PT230-P01 Cr, 0.15μm
EFP算法 标配 XRF-PT230-P02 Ni, 5μm
分析时间 5~300s XRF-PT230-P03 Zn, 10μm
纯元素片
探测器 Si-Pin半导体探测器 XRF-PT230-P04 Cu, 8μm
X射线装置 微聚焦射线管 XRF-PT230-P05 Ag, 0.5μm
标配Ø0.3mm XRF-PT230-P06 Au, 0.05μm
准直器
(可选Ø0.5mm, Ø0.3mm, Ø0.2mm, 0.1×0.3mm) XRF-PT230-P07 Ni/Cu, 2μm
光斑扩散度 <10% XRF-PT230-P08 ZnNi/Fe, 10μm
镀层片
样品观测 1/2.7"彩色CCD, 变焦功能 XRF-PT230-P09 ZnNi/Cu, 5μm/0.7μm
测量距离 变焦0~30mm XRF-PT230-P10 ZnNi/Cu, 10μm/4μm
对焦方式 高敏感镜头, 手动对焦
放大倍数 光学38~46X, 数字放大40~200倍
样品腔高度 210mm 24
可选配件
样品台移动方式 高精密XY手动滑轨
电镀液测量杯 XRF-PT230-MC
样品台移动范围 50×50mm
溶液测试膜 XRF-PT230-SF
工作环境 15~30°C, <70%RH
电源功率 AC220V, 50Hz, 95W
尺寸 545×380×435mm
重量 48kg

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